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產(chǎn)品展示
固態(tài)液態(tài)體積電阻率測(cè)試儀
型 號(hào)
更新時(shí)間2023-08-05
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
報(bào)價(jià)
產(chǎn)品描述：本儀器既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí) 直接顯示流過(guò)被測(cè)電阻的電流。電阻量限從1×104Ω～1×1018Ω， 電流測(cè)量范圍 為2×10-4A～1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。
產(chǎn)品概述
一、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀特點(diǎn)
本儀器既可測(cè)量超高電阻,又可測(cè)極微弱電流。采用了大規(guī)模集成電路以及的技 術(shù)，使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以數(shù)字液晶顯示電阻并同時(shí) 直接顯示流過(guò)被測(cè)電阻的電流。電阻量限從1×104Ω～1×1018Ω， 電流測(cè)量范圍 為2×10-4A～1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量電流如電子器件暗電流等。
二、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀測(cè)量指標(biāo)
1 電阻測(cè)量范圍 1×104Ω～1×1018Ω；
2 電流測(cè)量范圍 2×10-4Ａ～1×10-16Ａ；
3 體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高；
4 *的被測(cè)電阻、和流過(guò)電阻的電流雙顯示，使操作測(cè)量更加方便；
5 性能穩(wěn)定、讀數(shù)方便；
6 既能測(cè)電阻又能測(cè)電流；
7 測(cè)試電壓有六種選擇之多DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；
8 使用操作簡(jiǎn)便，在任何電阻量程和測(cè)試電壓下均直接讀顯示數(shù)字結(jié)果，
免去要乘以一個(gè)系數(shù)的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。
三、適用的主要標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 1410-2006 固體絕緣材料 體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法
GB 12014 防靜電工作服
GB/T 20991-2007 個(gè)體防護(hù)裝備 鞋的測(cè)試方法
GB 4385-1995 防靜電鞋、導(dǎo)電鞋技術(shù)要求
GB 12158-2006 防止靜電事故通用導(dǎo)則
GB 4655-2003 橡膠工業(yè)靜電安全規(guī)程
GB/T 12703.4-2010 紡織品 靜電性能的評(píng)定 第4部分 電阻率
GB/T 12703.6-2010 紡織品 靜電性能的評(píng)定 第6部分 纖維泄漏電阻
GB 13348-2009 液體石油產(chǎn)品靜電安全規(guī)程
GB/T 15738-2008 導(dǎo)電和抗靜電纖維增強(qiáng)塑料電阻率試驗(yàn)方法
GB/T 18044-2008 地毯 靜電習(xí)性評(píng)價(jià)法 行走試驗(yàn)
GB/T 18864-2002 硫化橡膠 工業(yè)用抗靜電和導(dǎo)電產(chǎn)品 電阻極限范圍
GB/T 22042-2008 服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法
GB/T 22043-2008 服裝 防靜電性能 通過(guò)材料的電阻（垂直電阻）試驗(yàn)方法
GB/T 24249-2009 防靜電潔凈織物
GB 26539-2011 防靜電陶瓷磚 Antistatic ceramic tiles
GB/T 26825-2011 抗靜電防腐膠
GB 50515-2010 導(dǎo)（防）靜電地面設(shè)計(jì)規(guī)范
GB 50611-2010 電子工程防靜電設(shè)計(jì)規(guī)范
GJB 105-1998-Z 電子產(chǎn)品防靜電放電控制手冊(cè)
GJB 3007A-2009 防靜電工作區(qū)技術(shù)要求
GJB 5104-2004 無(wú)線(xiàn)電引信風(fēng)帽用防靜電涂料及風(fēng)帽靜電性能通用要求
四、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)
1. 電阻測(cè)量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω，分為十個(gè)量程。
2. 電流測(cè)量范圍為2×10-4A ～1×10-16A
3. 全數(shù)字液晶屏顯示。
4. 準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表:
量程有效顯示范圍20～30℃ RH<80%
1040.01~19.991%
1050.01～19.991%
1060.01～19.991%
1070.01～19.991%
1080.01～19.991%
1090.01～19.991%
10100.01～19.995%+2字
10110.01～19.995%+2字
10120.01～19.995%+5字
10130.01～19.9910%+5字
10140.01～19.9910%+5字
1014以上0.01～19.9910-15%+5字
（ 超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加）
測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同）
測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%
5. 使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃相對(duì)濕度<90%。
6. 測(cè)試電壓:DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7. 供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約10W。
8. 儀器尺寸: 300ｍｍ× 280ｍｍ× 150 mm。
9. 質(zhì)量: 約3.0KG。
五、名詞術(shù)語(yǔ)
1） 絕緣電阻：施加在與試樣相接觸的二電極之間的直流電壓除以通過(guò)兩電極的總電流所得的商。它取決于體積電阻和表面電阻。
2） 體積電阻：在試樣的相對(duì)兩表面上放置的兩電極間所加直流電壓與流過(guò)兩個(gè)電極之間的穩(wěn)態(tài)電流之商；該電流不包括沿材料表面的電流。在兩電極間可能形成的極化忽略不計(jì)。
3） 體積電阻率：絕緣材料里面的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與穩(wěn)態(tài)電流密度之商，即單位體積內(nèi)的體積電阻。
4） 表面電阻：在試樣的某一表面上兩電極間所加電壓與經(jīng)過(guò)一定時(shí)間后流過(guò)兩電極間的電流之商；該電流主要為流過(guò)試樣表層的電流，也包括一部分流過(guò)試樣體積的電流成分。在兩電極間可能形成的極化忽略不計(jì)。
5）表面電阻率：在絕緣材料的表面層的直流電場(chǎng)強(qiáng)度與線(xiàn)電流密度之商，即單位面積內(nèi)的表面電阻。
六、測(cè)量技術(shù)
a.通常，絕緣材料用于電氣系統(tǒng)的各部件相互絕緣和對(duì)地絕緣，固體絕緣材料還起機(jī)械支撐作用。一般希望材料有盡可能高的絕緣電阻，并具有合適的機(jī)械、化學(xué)和耐熱性能。
b.絕緣材料的電阻率一般都很高，也就是傳導(dǎo)電流很小。如果不注意外界因素的干擾和漏電流的影響，測(cè)量結(jié)果就會(huì)發(fā)生很大的誤差。同時(shí)絕緣材料本身的吸濕性和環(huán)境條件的變化對(duì)測(cè)量結(jié)果也有很大影響。
c.影響體積電阻率和表面電阻率測(cè)試的主要因素是溫度和濕度、電場(chǎng)強(qiáng)度、充電時(shí)間及殘余電荷等。體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個(gè)參數(shù)，電阻率隨溫度和濕度的變化而顯著變化。體積電阻率的測(cè)量常常用來(lái)檢查絕緣材料是否均勻，或者用來(lái)檢測(cè)那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測(cè)到的導(dǎo)電雜質(zhì)。
d.由于體積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測(cè)試中去，因此只能近似地測(cè)量表面電阻，測(cè)得的表面電阻值主要反映被測(cè)試樣表面污染的程度。所以，表面電阻率不是表征材料本身特性的參數(shù)，而是一個(gè)有關(guān)材料表面污染特性的參數(shù)。當(dāng)表面電阻較高時(shí)，它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測(cè)量表面電阻通常都規(guī)定1min的電化時(shí)間。
（1）溫度和濕度：固體絕緣材料的絕緣電阻率隨溫度和濕度的升高而降低，特別是體積電阻率隨溫度改變而變化非常大。因此，電瓷材料不但要測(cè)定常溫下的體積電阻率，而且還要測(cè)定高溫下的體積電阻率，以評(píng)定其絕緣性能的好壞。由于水的電導(dǎo)大，隨著濕度增大，表面電阻率和有開(kāi)口孔隙的電瓷材料的體積電阻率急劇下降。因此，測(cè)定時(shí)應(yīng)嚴(yán)格地按照規(guī)定的試樣處理要求和測(cè)試的環(huán)境條件下進(jìn)行。
（2）電場(chǎng)強(qiáng)度：當(dāng)電場(chǎng)強(qiáng)度比較高時(shí)，離子的遷移率隨電場(chǎng)強(qiáng)度增高而增大，而且在接近擊穿時(shí)還會(huì)出現(xiàn)大量的電子遷移，這時(shí)體積電阻率大大地降低。因此在測(cè)定時(shí)，施加的電壓應(yīng)不超過(guò)規(guī)定的值。
（3）殘余電荷：試樣在加工和測(cè)試等過(guò)程中，可能產(chǎn)生靜電，電阻越高越容易產(chǎn)生靜電，影響測(cè)量的準(zhǔn)確性。因此，在測(cè)量時(shí)，試樣要*放電，即可將幾個(gè)電極連在一起進(jìn)行短路。
（4）雜散電勢(shì)的消除：在絕緣電阻測(cè)量電路中，可能存在某些雜散電勢(shì)，如熱電勢(shì)、電解電勢(shì)、接觸電勢(shì)等，其中影響zui大的為電解電勢(shì)。用高阻計(jì)測(cè)量表面潮濕的試樣的體積電阻時(shí)，測(cè)量極與保護(hù)極間可產(chǎn)生20mv的電勢(shì)。試驗(yàn)前應(yīng)檢查有無(wú)雜散電勢(shì)?？筛鶕?jù)試樣加壓前后高阻計(jì)的二次指示是否相同來(lái)判斷有無(wú)雜散電勢(shì)。如相同，證明無(wú)雜散電勢(shì)；否則應(yīng)當(dāng)尋找并排除產(chǎn)生雜散電勢(shì)的根源，才能進(jìn)行測(cè)量。
（5）防止漏電流的影響：對(duì)于高電阻材料，只有采取保護(hù)技術(shù)才能去除漏電流對(duì)測(cè)量的影響。保護(hù)技術(shù)就是在引起測(cè)量誤差的漏電路徑上安置保護(hù)導(dǎo)體，截住可能引起測(cè)量誤差的雜散電流，使之不流經(jīng)測(cè)量回路或儀表。保護(hù)導(dǎo)體連接在一起構(gòu)成保護(hù)端，通常保護(hù)端接地。測(cè)量體積電阻時(shí)，三電極系統(tǒng)的保護(hù)極就是保護(hù)導(dǎo)體。此時(shí)要求保護(hù)電極和測(cè)量電極間的試樣表面電阻高于與它并聯(lián)元件的電阻10～100倍。線(xiàn)路接好后，應(yīng)首先檢查是否存在漏電。此時(shí)斷開(kāi)與試樣連接的高壓線(xiàn)，加上電壓。如在測(cè)量靈敏度范圍內(nèi)，測(cè)量?jī)x器指示的電阻值為無(wú)限大，則線(xiàn)路無(wú)漏電，可進(jìn)行測(cè)量。
（6）條件處理和測(cè)試條件的規(guī)定:固體絕緣材料的電阻隨溫度、濕度的增加而下降。試樣的預(yù)處理?xiàng)l件取決于被測(cè)材料，這些條件在材料規(guī)范中規(guī)定。推薦使用GB10580《固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件》中規(guī)定的預(yù)處理方法?？墒褂酶视?mdash;水溶液潮濕箱進(jìn)行濕度預(yù)處理。測(cè)試條件應(yīng)與預(yù)處理?xiàng)l件盡可能地*，有些時(shí)候（如浸水處理）不能保持預(yù)處理?xiàng)l件和測(cè)試條件*時(shí)，則應(yīng)在從預(yù)處理環(huán)境中取出后在盡可能短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試，一般不超過(guò)5分鐘。
（7）電化時(shí)間的規(guī)定:當(dāng)直流電壓加到與試樣接觸的兩電極間時(shí)，通過(guò)試樣的電流會(huì)指數(shù)式地衰減到一個(gè)穩(wěn)定值。電流隨時(shí)間的減小可能是由于電介質(zhì)極化和可動(dòng)離子位移到電極所致。對(duì)于體積電阻率小于1010Ω·m的材料，其穩(wěn)定狀態(tài)通常在1分鐘內(nèi)達(dá)到。因此，要經(jīng)過(guò)這個(gè)電化時(shí)間后測(cè)定電阻。對(duì)于電阻率較高的材料，電流減小的過(guò)程可能會(huì)持續(xù)幾分鐘、幾小時(shí)、幾天，因此需要用較長(zhǎng)的電化時(shí)間。如果需要的話(huà)，可用體積電阻率與時(shí)間的關(guān)系來(lái)描述材料的特性。當(dāng)表面電阻較高時(shí)，它常隨時(shí)間以不規(guī)則的方式變化。測(cè)量表面電阻通常都規(guī)定1分鐘的電化時(shí)間
。
七、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)：
高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用方法步聚進(jìn)行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。
１、 應(yīng)在“Ｒｘ”兩端開(kāi)路時(shí)調(diào)零 如接在電阻箱或被測(cè)量物體上時(shí)調(diào)零后測(cè)量會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零，但改變測(cè)量電壓后可能要重新調(diào)零。
２、 禁止將“Ｒｘ”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊
３、 在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓， 隨意改動(dòng)測(cè)量電壓可能因電壓的過(guò)高或電流過(guò)大損壞被測(cè)試器件或測(cè)試儀器，而且有的材料是非線(xiàn)性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由于電流不是線(xiàn)性變化，所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。
４、 測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸拔往高次檔 每撥一次稍停留1～2秒以便觀(guān)察顯示數(shù)字，當(dāng)有顯示值時(shí)應(yīng)停下，記錄當(dāng)前的數(shù)字即是被測(cè)電阻值。若顯示“1”時(shí)，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時(shí)為止。當(dāng)有顯示數(shù)字時(shí)不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器（機(jī)內(nèi)有過(guò)電流保護(hù)電路）。除104 Ω檔之外，當(dāng)顯示低于1.99，表示過(guò)量程應(yīng)換低檔!
５、 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會(huì)有一定變化而引起數(shù)字變化 由于本儀器的分辯率很高，因而會(huì)引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問(wèn)題，而是被測(cè)量對(duì)象的導(dǎo)電機(jī)理復(fù)雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。
６ 、接通電源后，手指不能觸及高壓線(xiàn)的金屬部分 本儀表有二連根線(xiàn)：高壓線(xiàn)（紅）和微電流測(cè)試線(xiàn)。在使用時(shí)要注意高壓線(xiàn)，開(kāi)機(jī)后人不能觸及高壓線(xiàn)，以免電人或麻手。
７ 、測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端 微電流測(cè)試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開(kāi)機(jī)后和測(cè)試過(guò)程中不能與微電流測(cè)試端接觸，以免損壞儀表。
８、 在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽． 在測(cè)量大于1010 Ω以上時(shí)，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。
９、 每次測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回“１０４ ”檔再進(jìn)行下次測(cè)試 在測(cè)量時(shí)應(yīng)逐漸將量程開(kāi)關(guān)撥到高阻檔，測(cè)量完時(shí)應(yīng)將量程開(kāi)關(guān)撥回低檔。以確保下次開(kāi)機(jī)時(shí)量程開(kāi)關(guān)處在低阻量程檔。
人體一般可以帶上幾千甚至幾萬(wàn)伏靜電！
八、高阻測(cè)量常見(jiàn)問(wèn)題
1 。為什么在測(cè)量同一物體時(shí)用不同的電阻量程有不同的讀 數(shù)？
這是因?yàn)闇y(cè)量電阻時(shí)為防止過(guò)電壓損壞儀器，如果出現(xiàn)過(guò)量程時(shí)儀器內(nèi)保護(hù)電路 開(kāi)始工作，將測(cè)試電壓降下來(lái)以保護(hù)機(jī)內(nèi)放大器。在不同的電壓下測(cè)量同一物體會(huì) 有不同的結(jié)果。而且當(dāng)測(cè)量電阻時(shí)若讀數(shù)小于199，既只為三位數(shù)且*位數(shù)為1 時(shí)，其準(zhǔn)確度要下降。所以在測(cè)量電阻時(shí)當(dāng)*次讀數(shù)從1 變?yōu)槟骋蛔x數(shù)時(shí)，不應(yīng) 再往更高的量程扭開(kāi)關(guān)以防對(duì)儀器造成過(guò)大的電流沖擊。在實(shí)際使用時(shí)，即讀數(shù)位 數(shù)多的比讀數(shù)位數(shù)少的準(zhǔn)確度高。
2 ．為什么測(cè)量一些物體的電流時(shí)用不同的量程也會(huì)出現(xiàn)測(cè)出結(jié) 果相差較大？
這是因?yàn)橐话阄矬w輸出的電流不是恒定流，而儀器有一定內(nèi)阻，若在儀器上所選 量程的內(nèi)阻過(guò)大以至于在儀器上的電壓降影響被測(cè)物體的輸出電流時(shí)會(huì)造成測(cè)量誤差。一般電流越小的量程內(nèi)阻越高，所以在測(cè)量電流時(shí)應(yīng)選用電流大的量程。在實(shí) 際使用時(shí)即只要電流表有讀數(shù)時(shí)，讀數(shù)位數(shù)少的小的比讀數(shù)位數(shù)多的準(zhǔn)確度高。
3．為什么測(cè)量時(shí)儀器的讀數(shù)總是不穩(wěn)？
一般的材料其導(dǎo)電性不是嚴(yán)格像標(biāo)準(zhǔn)電阻樣在一定的電壓下有很穩(wěn)定的電流，有 很多材料特別是防靜電材料其導(dǎo)電性不符合歐姆定律，所以在測(cè)量時(shí)其讀數(shù)不穩(wěn)。 這不是儀器的問(wèn)題，而是被測(cè)量物體的性能決定的。有的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定以測(cè)量1分鐘時(shí)間 的讀數(shù)為準(zhǔn)。通常在測(cè)量高電阻或微電流時(shí)測(cè)量準(zhǔn)確度因重復(fù)性不好，對(duì)測(cè)量讀數(shù) 只要求2位或3位。另外在測(cè)量大電阻時(shí)如果屏蔽不好也會(huì)因外界的電磁信號(hào)對(duì)儀器 測(cè)量結(jié)果造成讀數(shù)不穩(wěn)。
4. 這是因?yàn)樵跍y(cè)量時(shí)被測(cè)物體及儀器輸入端都有一定的電容，這個(gè)電容在測(cè)量時(shí)已 被充電到測(cè)量電阻時(shí)的電壓值，如果儀器不撥到104擋后關(guān)電源這個(gè)充電后的電容器 會(huì)對(duì)儀器內(nèi)的放大器放電而造成儀器損壞。當(dāng)被測(cè)量物體電容越大，測(cè)試電壓越高 時(shí)，電容器所儲(chǔ)藏的電能越大，更容易損壞儀器，特別是在電阻的高量程或電流的 低量程時(shí)因儀器非常靈敏，儀器過(guò)載而損壞的可能性更大。所以一定要將量程開(kāi)關(guān) 再撥到104擋后才能關(guān)電源。
5。 為什么在測(cè)量電阻過(guò)程中不要改變對(duì)被測(cè)物的測(cè)試電 壓？
在測(cè)量電阻過(guò)程中如果改變對(duì)被測(cè)物的測(cè)試電壓，無(wú)論電壓變高或變低時(shí)都將 會(huì)產(chǎn)生大脈沖電流，這個(gè)大的電流很有可能使儀器過(guò)量程甚至更損壞儀器。另一方 面如果電壓突然變化也會(huì)通過(guò)被測(cè)量物體的（分布）電容放電或反向放電對(duì)測(cè)量?jī)x 器造成沖擊而損壞儀器。有的物體的耐壓較低，當(dāng)您改變測(cè)量電壓時(shí)有右能擊穿而 產(chǎn)生大電流損壞儀器。如果要改變測(cè)量電壓，在確保被測(cè)量物體不會(huì)因電壓過(guò)高擊 穿時(shí)，要先將量程開(kāi)關(guān)撥到104檔后關(guān)閉電源，再?gòu)膬x器后面板調(diào)整到所要求的電 壓。有的材料是非線(xiàn)性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時(shí)由于電流不是線(xiàn)性變化，所以測(cè)量的電阻也會(huì)變化。
6 。為什么測(cè)量完畢要將量程開(kāi)關(guān)再撥到 104 檔后關(guān)閉電源？
這是因?yàn)闄C(jī)內(nèi)的電容器充有很高的電壓（zui高電壓達(dá)1200V以上），這些電容器的 所帶的電能保持較長(zhǎng)的時(shí)間，如果關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)，則會(huì)將機(jī)內(nèi)的高壓電容器很快放 電，不會(huì)在測(cè)量的高壓端留有很危險(xiǎn)的電壓造成電擊。如果僅撥電源線(xiàn)而不是關(guān)電 源開(kāi)頭，雖然斷了電源，但機(jī)內(nèi)高壓電容器還有會(huì)因長(zhǎng)時(shí)間保持很高的電壓，將會(huì) 對(duì)人員或其它物體造成電擊或損壞。在儀器有問(wèn)題時(shí)也不要隨便打開(kāi)機(jī)箱因機(jī)內(nèi)高壓造成電擊，要將儀器找專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員或寄回廠(chǎng)家修理。
九、體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀主要應(yīng)用范圍
a 材料高阻測(cè)試測(cè)量如防靜電產(chǎn)品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì) 算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等）電阻值的檢測(cè)；
b 材料體積電阻（率）和表面電阻（率）測(cè)量；
c 電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究;
d 微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。
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